<<
>>

Оценка полного времени прохождения пакетов через коммутационное устройство

В ходе второго эксперимента с использованием PPP Switch Simulator и сре­ды Visual QChart Simulator оценивалось время прохождения пакетов через КУ τ, т.е. среднее время (задержка) от момента поступления пакета в одну из входных очередей до момента его выдачи на выход устройства (mean relay ticks, см.

рис. 3.3). Условия проведения эксперимента соответствовали первому экспери­менту, исключая число повторений цикла моделирования (оно составляло к = 10 раз). Оцениваемое время измерялось в числе тактов ретрансляции КУ.

На рис. 3.10 и 3.11 представлены графики зависимости средней задержки КУ τ от параметра распределения Бернулли pпри n = 15 и n = 25 соответственно, полученные в результате имитационного моделирования (поскольку погрешности малой выборки составили менее 1%, для упрощения планки погрешностей на рис. 3.10 не показаны).

Рисунок 3.10. Графики зависимости средней задержки КУ

от параметра распределения Бернулли при n = 15

Из представленных графиков видно, что при малой (p ≤ 0.6) интенсивности потоков пакетов разработанное устройство не имеет преимуществ по величине задержки перед аналогами, однако уже при p = 0.7 наблюдается выигрыш в 10 ÷ 20 %. Наибольшее преимущество ПКП-устройства достигается при p = 0.8 и составляет примерно до 5 раз.

85

Рисунок 3.1 x. Графики зависимости средней задержки КУ от параметра распределения Бернулли при n = 25

В ходе машинного эксперимента также было проведено детальное изучение поведения задержки ПКП-устройства tpppпри различном числе входов/выходов n. В результате были получено семейство графиков, приведенных на рис. 3.x2.

Из рис. 3.12 видно, что при p ≤ 0.7 задержка tpppпрактически не зависит от числа входов/выходов КУ и изменяется от минимального значения микротактов (p =0.x) домикротактов (p = 0.7). Дальнейшее увеличе­

ние параметра pприводит к резкому повышению tppp, которое будет тем резче, чем меньше значение n. Это объясняется тем, что интенсивность входного потока пакетов начинает превышать пропускную способность КУ, приводя к резкому ро­сту длин очередей пакетов в буферах Qx,Q2Qn. Если такая интенсивность (p > 0.7 ÷ 0.8) будет сохраняться бесконечно долго, то длина очередей в буферах Qx,Q2Qnбудет стремиться к бесконечности; соответственно, и время tpppтео-

ретически также устремится в бесконечность. В ходе исследований установлено, что кратковременное повышение pдо уровней выше 0.7 ÷ 0.8 (hot spot Bernoulli traffic) вполне допустимо и будет приводить лишь к небольшому временному по­вышению длины очередей пакетов и величины Tppp, которые затем стабилизиру­ются при снижении нагрузки на КУ. Учитывая, что предельная длина буферов Q1,Q2,...,Qnограничена, на практике необходимо предусмотреть возможность временной блокировки передачи пакетов через КУ при резком повышении интен­сивности трафика, чтобы исключить потери пакетов.

Рисунок 3.12. Графики зависимости задержки прохождения пакета через ПКП КУ tpppот параметраpраспределения Бернулли для n∈{5,10,15,20,25}

3.6.

<< | >>
Источник: Мохаммед Ажмаль Джамиль Абдо. МЕТОД, АЛГОРИТМ И УСТРОЙСТВО КОММУТАЦИИ С ПАРАЛЛЕЛЬНО-КОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ В МАТРИЧНЫХ МУЛЬТИПРОЦЕССОРАХ. Диссертация на соискание ученой степени кандидата технических наук. КУРСК - 2019. 2019

Еще по теме Оценка полного времени прохождения пакетов через коммутационное устройство:

  1. Оценка быстродействия коммутационного устройства при использовании параллельно-конвейерной диспетчеризации пакетов
  2. МЕТОД И АЛГОРИТМ КОММУТАЦИИ С ПАРАЛЛЕЛЬНО­КОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ. СТРУКТУРНАЯ МОДЕЛЬ КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА
  3. Оценка аппаратной сложности коммутационного устройства
  4. ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА С ПАРАЛЛЕЛЬНО-КОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ
  5. СТРУКТУРНО-ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА С ПАРАЛЛЕЛЬНО­КОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ
  6. Оценка эффективности использования матрицы регистров коммутационного устройства
  7. 4.1. Особенности резонансного прохождения волны TM (ТЕ-) типа через пластину антиферромагнетика в скрещенных магнитном и электрическом полях
  8. П.8. Условия полуволнового прохождения плоских объемных волн TM- (ТЕ-) типа через слой ЛО АФМ в скрещенных магнитном и электрическом
  9. ГЛАВА I. ЭФФЕКТЫ НЕВЗАИМНОСТИ ПРИ ПРОХОЖДЕНИИ ПЛОСКОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ TM- (ТЕ-) ТИПА ЧЕРЕЗ ГРАНИЦУ РАЗДЕЛА НЕМАГНИТНОГО ДИЭЛЕКТРИКА И АНТИФЕР­РОМАГНЕТИКА C ЦЕНТРОМ АНТИСИММЕТРИИ
  10. Методика исследования характеристик коммутационного устройства