Оценка полного времени прохождения пакетов через коммутационное устройство
В ходе второго эксперимента с использованием PPP Switch Simulator и среды Visual QChart Simulator оценивалось время прохождения пакетов через КУ τ, т.е. среднее время (задержка) от момента поступления пакета в одну из входных очередей до момента его выдачи на выход устройства (mean relay ticks, см.
рис. 3.3). Условия проведения эксперимента соответствовали первому эксперименту, исключая число повторений цикла моделирования (оно составляло к = 10 раз). Оцениваемое время измерялось в числе тактов ретрансляции КУ.
На рис. 3.10 и 3.11 представлены графики зависимости средней задержки КУ τ от параметра распределения Бернулли pпри n = 15 и n = 25 соответственно, полученные в результате имитационного моделирования (поскольку погрешности малой выборки составили менее 1%, для упрощения планки погрешностей на рис. 3.10 не показаны).
Рисунок 3.10. Графики зависимости средней задержки КУ
от параметра распределения Бернулли при n = 15
Из представленных графиков видно, что при малой (p ≤ 0.6) интенсивности потоков пакетов разработанное устройство не имеет преимуществ по величине задержки перед аналогами, однако уже при p = 0.7 наблюдается выигрыш в 10 ÷ 20 %. Наибольшее преимущество ПКП-устройства достигается при p = 0.8 и составляет примерно до 5 раз.
85
Рисунок 3.1 x. Графики зависимости средней задержки КУ от параметра распределения Бернулли при n = 25
В ходе машинного эксперимента также было проведено детальное изучение поведения задержки ПКП-устройства tpppпри различном числе входов/выходов n. В результате были получено семейство графиков, приведенных на рис. 3.x2.
Из рис. 3.12 видно, что при p ≤ 0.7 задержка tpppпрактически не зависит от числа входов/выходов КУ и изменяется от минимального значения микротактов (p =0.x) до
микротактов (p = 0.7). Дальнейшее увеличе
ние параметра pприводит к резкому повышению tppp, которое будет тем резче, чем меньше значение n. Это объясняется тем, что интенсивность входного потока пакетов начинает превышать пропускную способность КУ, приводя к резкому росту длин очередей пакетов в буферах Qx,Q2Qn. Если такая интенсивность (p > 0.7 ÷ 0.8) будет сохраняться бесконечно долго, то длина очередей в буферах Qx,Q2Qnбудет стремиться к бесконечности; соответственно, и время tpppтео-
ретически также устремится в бесконечность. В ходе исследований установлено, что кратковременное повышение pдо уровней выше 0.7 ÷ 0.8 (hot spot Bernoulli traffic) вполне допустимо и будет приводить лишь к небольшому временному повышению длины очередей пакетов и величины Tppp, которые затем стабилизируются при снижении нагрузки на КУ. Учитывая, что предельная длина буферов Q1,Q2,...,Qnограничена, на практике необходимо предусмотреть возможность временной блокировки передачи пакетов через КУ при резком повышении интенсивности трафика, чтобы исключить потери пакетов.
Рисунок 3.12. Графики зависимости задержки прохождения пакета через ПКП КУ tpppот параметраpраспределения Бернулли для n∈{5,10,15,20,25}
3.6.
Еще по теме Оценка полного времени прохождения пакетов через коммутационное устройство:
- Оценка быстродействия коммутационного устройства при использовании параллельно-конвейерной диспетчеризации пакетов
- МЕТОД И АЛГОРИТМ КОММУТАЦИИ С ПАРАЛЛЕЛЬНОКОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ. СТРУКТУРНАЯ МОДЕЛЬ КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА
- Оценка аппаратной сложности коммутационного устройства
- ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА С ПАРАЛЛЕЛЬНО-КОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ
- СТРУКТУРНО-ФУНКЦИОНАЛЬНАЯ ОРГАНИЗАЦИЯ КОММУТАЦИОННОГО УСТРОЙСТВА С ПАРАЛЛЕЛЬНОКОНВЕЙЕРНОЙ ДИСПЕТЧЕРИЗАЦИЕЙ ПАКЕТОВ
- Оценка эффективности использования матрицы регистров коммутационного устройства
- 4.1. Особенности резонансного прохождения волны TM (ТЕ-) типа через пластину антиферромагнетика в скрещенных магнитном и электрическом полях
- П.8. Условия полуволнового прохождения плоских объемных волн TM- (ТЕ-) типа через слой ЛО АФМ в скрещенных магнитном и электрическом
- ГЛАВА I. ЭФФЕКТЫ НЕВЗАИМНОСТИ ПРИ ПРОХОЖДЕНИИ ПЛОСКОЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ TM- (ТЕ-) ТИПА ЧЕРЕЗ ГРАНИЦУ РАЗДЕЛА НЕМАГНИТНОГО ДИЭЛЕКТРИКА И АНТИФЕРРОМАГНЕТИКА C ЦЕНТРОМ АНТИСИММЕТРИИ
- Методика исследования характеристик коммутационного устройства